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zeta電位測(cè)定儀的光學(xué)特點(diǎn)分析

更新時(shí)間:2020-11-03      點(diǎn)擊次數(shù):854
   zeta電位測(cè)定儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來分析,并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù),可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求??捎糜跍y(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定顆粒的Zeta電位,求出等電點(diǎn),是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法,在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比,它具有顯著的*性??蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。
  zeta電位測(cè)定儀光學(xué)特點(diǎn):
  1.傳統(tǒng)測(cè)量原理:通過傳統(tǒng)微電泳方法測(cè)量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比,沒有黑盒子。
  2.通過激光暗場(chǎng)照明觀察納米顆粒:502的*的超顯微鏡設(shè)計(jì)提供了一個(gè)高對(duì)比度的圖像,即使是納米粒子。依賴于顆粒對(duì)懸浮介質(zhì)的相對(duì)折射率不同,可測(cè)量小至20nm的顆粒。
  3.在靜止層觀察顆粒:高水平的激光光學(xué)系統(tǒng)和高性能的CCD攝像頭可以僅觀察靜止層的顆粒。其提供的高精度結(jié)果不受電滲流的影響。
  4.水平設(shè)置的長(zhǎng)方形電泳池:水平放置的長(zhǎng)方形電泳池提供了一個(gè)高度準(zhǔn)確的結(jié)果。因?yàn)檫@樣的布局幾乎不存在由于池壁附近顆粒沉淀引起電滲流非對(duì)稱化。
  zeta電位測(cè)定儀注意事項(xiàng):
  1、若要進(jìn)行酸堿滴定測(cè)等電點(diǎn)或測(cè)PH值,則每次實(shí)驗(yàn)前須校正PH探針;若要測(cè)試溶液電導(dǎo)率,則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次。
  2、每次更換樣品均需要清洗主探頭、PH探針以及容器,洗好擦干以免前面殘留粉末影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
  3、實(shí)驗(yàn)結(jié)束后要*清洗主探頭、PH探針和容器,并將PH探針放回酸性緩沖液中。
  4、若進(jìn)行酸堿滴定則每次關(guān)機(jī)前需將酸堿滴定管清洗3~5次。
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