光譜分析儀以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，一個色散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復雜的復合光分解為光譜線并進行測量和計算的科學儀器，被廣泛應用于輻射度學分析、顏色測量、化學成份分析等領域，在冶金、地質、水文、醫(yī)藥、石油化工、環(huán)境保護、宇宙探索等行業(yè)發(fā)揮著重要作用。在照明行業(yè)，通常使用光譜儀來測量光源的光色參數。
產品集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件，提高了工作效率：使用OMA分析光譜，測盆準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出.目前,它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中,特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。
光譜分析儀優(yōu)點：
精：采用先進的全自平場凹平光柵、精密光學系統和電子快門控制技術測量精度更高
快：采用陣列探測器替代傳統機械掃描系統，在極短的時間內完成整個光譜測量
靈：不含機械掃描裝置，外型精巧美觀，無機械磨損，使用壽命長，可靠性高
光譜儀可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦 基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術覆蓋了全元素分析范圍，可根據客戶需要選擇通道元素；光譜分析儀可同時實現毫秒級的測量速度和傳統機械式光譜儀的測量精度，用于LED及LED燈具等各類光源的光譜、顏色及光通量等光色參數的高精度測量。
當前位置：
地址：上海市浦東新區(qū)航川路18號
郵箱：info@yh-tek.com
傳真：021-58220558